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  • AP-CJ內(nèi)箱尺寸1米冷熱沖擊箱/三箱式?jīng)_擊測(cè)試箱

    內(nèi)箱尺寸1米冷熱沖擊箱/三箱式?jīng)_擊測(cè)試箱用于測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從密的IC到重機(jī)械的組件

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    產(chǎn)品價(jià)格：面議
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
    更新日期：2023-05-01
  • AP-CJ芯片冷熱沖擊測(cè)試箱

    芯片冷熱沖擊測(cè)試箱是一款用來(lái)做溫度快速?zèng)_擊實(shí)驗(yàn)的設(shè)備，*快高低溫從-40度沖至85度可在2秒鐘內(nèi)達(dá)到高低溫轉(zhuǎn)換，5分鐘內(nèi)穩(wěn)定。

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    產(chǎn)品價(jià)格：面議
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
    更新日期：2023-05-01
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